Atomic Force Microscope (AFM)
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม เป็นกล้องจุลทรรศน์แบบหัวสแกน (Scanning Probe Microscopy หรือ SPM) ประเภทหนึ่งที่สามารถใช้ในการถ่ายภาพวัตถุที่มีขนาดเล็กในระดับนาโนเมตร หรือถ่ายภาพอะตอมของสสารได้ โดยที่กล้อง AFM จะมีลักษณะการทำงานที่พิเศษเฉพาะตัวคือจะใช้หัวอ่านขนาดเล็กวัดแรงผลักและแรงดูดที่เกิดขึ้นระหว่างหัวเข็มกับพื้นผิวของวัตถุ เพื่อมาสร้างเป็นภาพของพื้นผิวของวัตถุนั้นได้ โดยที่กล้อง AFM สามารถนำมาใช้ในการถ่ายภาพขยายในระดับนาโนเมตรของวัตถุที่นำไฟฟ้าและวัตถุที่ไม่นำไฟฟ้า
ลักษณะชิ้นงานที่ใช้ในการทดสอบ ได้แก่ แผ่นฟิลม์บาง คอลลอยด์ อนุภาคนาโนในเครื่องสำอางค์ เซลล์แบคทีเรีย ชิ้นงานที่เป็นผงระดับนาโน โดยมีขนาดชิ้นงานไม่เกิน 2 x 2 เซ็นติเมตร หนาไม่เกิน 1 เซ็นติเมตร ความขรุขระ ไม่เกิน 4 ไมโครเมตร และ ขนาดภาพสแกนใหญ่ไม่เกิน 100 x 100 x 4 เซ็นติเมตร (กว้าง ยาว สูง) โดยสามารถบอกความสูง ต่ำของพื้นผิวในรูปแบบ 2 มิติ หรือ 3 มิติ