ในยุคที่เทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์และชิ้นส่วนโลหะสำหรับอุตสาหกรรมพัฒนาไปอย่างรวดเร็ว ความแม่นยำและความทนทานของวัสดุคือหัวใจสำคัญของการผลิต นาโนเทค สวทช. มีบริการทดสอบทางห้องปฏิบัติการที่พร้อมให้บริการตรวจวิเคราะห์เชิงลึกสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ไมโครชิป และโลหะอุตสาหกรรมครบวงจร เพื่อช่วยให้ผู้ผลิตมั่นใจในคุณภาพ และส่งมอบสินค้าที่ได้มาตรฐานระดับสากล
ขอบเขตการให้บริการ
- การวิเคราะห์ลักษณะพื้นผิว (Surface Morphology Analysis): ตรวจสอบโครงสร้างพื้นผิวในด้วยความละเอียดสูง สามารถพบรอยต่างๆ ได้การแตกร้าว การหลุดลอกของชั้นฟิล์ม หรือการกัดกร่อนบนพื้นผิวโลหะ ช่วยวิเคราะห์การชำรุดของชิ้นส่วน (Failure Analysis) ได้ตรงจุด
- การวิเคราะห์องค์ประกอบธาตุบนพื้นผิว (Elemental Analysis): ระบุชนิดและปริมาณของธาตุที่เป็นส่วนประกอบในชิ้นงาน มีประโยชน์ต่อการวิเคราะห์และควบคุมความบริสุทธิ์ของวัตถุดิบก่อนเข้ากระบวนการผลิต
- การทดสอบความทนทานของพื้นผิว (Mechanical & Surface Durability): ทดสอบการทนต่อทางต่างๆ เช่นแรงขูด ขีด ความแข็งแรง การยึดเกาะของชั้นเคลือบ มีประโยชน์ต่อการรับประกันความคงทนของชิ้นส่วนเมื่อนำไปใช้งานในสภาวะจริง
เทคโนโลยีและเครื่องมือวิเคราะห์ขั้นสูง
- SEM & FE-SEM (Scanning Electron Microscope): กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปที่มีกำลังขยายสูงพิเศษ ใช้ถ่ายภาพพื้นผิวเพื่อดูรายละเอียดโครงสร้างระดับนาโน
- TEM (Transmission Electron Microscope): กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน เหมาะสำหรับตรวจดูโครงสร้างภายในและความเรียบร้อยของชั้นวัสดุ
- AFM (Atomic Force Microscope): เครื่องวัดความขรุขระและความเรียบเนียนของพื้นผิวในระดับอะตอม
- EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy): ระบบวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณและคุณภาพที่ทำงานร่วมกับกล้อง SEM
- Nano-mechanical Tester (NMT): เครื่องทดสอบคุณสมบัติทางกลระดับนาโน สำหรับวัดค่าความแข็ง (Hardness) และโมดูลัส (Modulus)
กลุ่มอุตสาหกรรมที่เหมาะสม
- อุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์และไมโครอิเล็กทรอนิกส์ (Semiconductor & Microelectronics)
- อุตสาหกรรมผลิตชิ้นส่วนยานยนต์ (Automotive Parts)
- อุตสาหกรรมแปรรูปโลหะ แผ่นเหล็ก และอลูมิเนียม
- อุตสาหกรรมผลิตชิ้นส่วนเครื่องใช้ไฟฟ้า
อัตราค่าบริการเริ่มต้น
- 15,000 บาท (หมายเหตุ: ราคาขึ้นอยู่กับจำนวนตัวอย่างและรายการทดสอบที่เลือก)
